MATESY德国 CMOS-Magview L磁场可视化系统
使用cmos-magview S设备,可以在几秒钟内精确地可视化和测量杂散磁场和结构。
CMOS-Magview提供具有不同磁光传感器和传感器尺寸的设CMOS-Magview系统有 cmos-magview S、cmos-magview M、cmos-magview L 和 cmos-magview XL 版本。
cmos-magview L提供以下分析:
磁化和部分磁化永磁体
磁编码器、电气片、
钢和不锈钢因热处理或变形而发生的结构变化
磁性安全特性测试
检查底盘或武器上的序列号
这些仪器配备了D型传感器,甚至可以使用各种激励方法对软磁结构进行可视化。
cmos-magview L产品亮点:
直接在表面上显示磁性结构
高几何分辨率,可对杂散场进行详细分析
根据应用的不同,这些仪器可以配备和校准不同的灵敏传感器类型
通过高分辨率数码相机记录磁光图像
使用图像分析算法评估磁场信息
cmos-magview L优势:
一枪在几秒钟内检测杂散场
与扫描方法相比,可节省大量时间
极点测量的极高横向分辨率
cmos-magview L 技术规格
传感器尺寸:*大 60 x 45 mm²
测量时间:1秒
几何分辨率:高达 15 μm(取决于传感器和相机)
实时可视化磁场并测量磁场强度
USB接口